测量要求施克SICK开关型自动化光栅

测量要求施克SICK开关型自动化光栅

技术概览：

SICK 开关型自动化光栅配有不同的技术，可以在各种应用中使用：检测和计算不规则物体，存在检测和凸起部分监视，适应不同的安装环境或者工况。无论小光束间距，抗外界光线干扰，大扫描范围，还是不同的监控高度或者非常窄的外壳测量，开关型自动化光栅都可以提供合适的解决方案。

保护区域的设计极为灵活，且针对性

无需其他软件即可快速轻松地完成调试

操作直观，且节省时间

不存在改装变型：一种设备设计即可适用所有开口尺寸

减少了仓储、物流和调试费用

无需相关知识

通过快速和简单维护，即可确保*的机器可用性

二维监控或计数是自动化的核心任务。SICK 自动化光栅可以应用于物体、人和车辆识别，存在检测和超限检测等各种解决方案。任务之多样化致使没有一种测量光栅可以胜任所有的应用需要。SICK 为您提供广泛而多样的自动化光栅选择，包括不同的监控高度、外壳大小、扫描范围和分辨率，并且简化集成。

 产品图片：

环境参数：

电磁兼容性 EN 60947-5-2

供电电压 Uv DC 15 V ... 30 V 1)

消耗电流， 发射器 < 100 mA 2)

消耗电流， 接收器 < 100 mA 2)

残余纹波 < 5 Vss

输出负载电容 100 nF

输出负载感应 1 H

初始化时间 1 s

尺寸(宽 x 高 x 深) 34 mm x 237 mm x 29 mm

连接类型 插头，M12，4 针

运行环境温度 –25 °C +55 °C

存储环境温度 –40 °C +70 °C

抗环境光能力 间接: ≤ 150,000 lx 1)

抗振动性 5 g, 10 Hz ... 55 Hz (IEC 68-2-6)

冲击负荷 10 g / DIN EN 60068-2-29 / 16 ms

SIKC西克 开关型自动化光栅多样化的应用

SICK 开关型自动化光栅配有不同的技术，可以在各种应用中使用：检测和计算不规则物体，存在检测和凸起部分监视，适应不同的安装环境或者工况。无论小光束间距，抗外界光线干扰，大扫描范围，还是不同的监控高度或者非常窄的外壳测量，开关型自动化光栅都可以提供合适的解决方案。

测量要求施克SICK开关型自动化光栅